◆高知県警 科捜研 築山主任研究員
「こちらが先日更新された『走査型電子顕微鏡＝通称・SEM』と呼ばれる資機材です。そして奥にあるのが『デジタルマイクロスコープ』と呼ばれる資機材です」

「デジタルマイクロスコープ」は、低倍率で素早く観察できるのが特徴です。破断したネジを観察してみると、ネジの断面が鮮明に映し出され、腐食の細かい部分まで確認できました。

このように、小さなネジの断面1つを見るだけでも、事故の原因などが分析できるということです。

◆高知県警 科捜研 築山主任研究員
「『なぜ破断したのか』という原因の特定は、捜査の上で重要な意味を持ちます。もともと腐食していて事故になったのか、事故後に発生した腐食なのか⋯という見極めも重要な意味を持つので、そういった点も注目しながら解析を行っています」