TOEICの複数の試験会場で偽名を使って不正に受験していたとして逮捕・起訴されている中国籍の男らが、去年1月にも東京都内の試験会場で「替え玉受験」を行ったとして再逮捕されました。

有印私文書偽造などの疑いで再逮捕されたのはいずれも中国籍の王立坤容疑者（27）、李照北容疑者（31）で、新たに逮捕されたウ錫渝容疑者（30）とともに、去年1月、東京・新宿区で行われたTOEICの試験会場で、実在する20代と30代の中国人男性2人の氏名を解答用紙に記入して「替え玉受験」を行った疑いがもたれています。

警視庁によりますと、王容疑者が会場の外にいる李容疑者に解答を伝え、李容疑者が電話でこの試験会場にいた他の30人余りの受験生に解答を漏らしていたとみられるということです。

王容疑者と李容疑者は都内の複数の試験会場で偽名を使い不正に受験するなどしたとしてすでに逮捕・起訴されていて、王容疑者は8回目、李容疑者は4回目の逮捕となります。

警視庁は3人の認否を明らかにしていません。